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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 08/03/2019

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 35 : méthode d'essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques flexibles et pliables

NF EN 62047-35

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Européenne
    Motif : Nouveau document

Résumé:

Le présent document spécifie la méthode d'essai des caractéristiques électriques sous une déformation par courbure de dispositifs électromécaniques souples et pliables, lorsqu'un dispositif pliable fonctionne alors qu'il est plié en deux. Ces dispositifs incluent des microcomposants passifs et/ou des microcomposants actifs situés sur ou intégrés dans le film souple. Typiquement, les dimensions planes souhaitées du dispositif pour la méthode d'essai sont comprises entre 1 mm et 300 mm et l'épaisseur est comprise entre 10 µm et 1 mm. Ces valeurs ne sont pas limitatives. La méthode d'essai est conçue pour plier les dispositifs de manière quasi statique et monotone jusqu'à la courbure maximale possible, c'est-à-dire jusqu'à ce que le dispositif soit complètement plié en deux, afin d'obtenir le comportement des dégradations complètes des propriétés physiques lors d'une déformation par courbure. Cette partie est essentielle pour estimer la marge de sécurité lors d'une certaine déformation par courbure et indispensable pour concevoir de manière fiable des produits qui utilisent ces dispositifs.

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Informations complémentaires :
  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • L'enquête publique est soumise sur la version française uniquement.