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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)

NF EN 60749-31

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Européenne
    Motif : Révision de document

Résumé:

L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives.

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Informations complémentaires :
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