Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Européenne |
Motif : | Révision de document | ||
Résumé: | |||
L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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