Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Européenne |
Résumé: | |||
La présente partie de la IEC 60749 décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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