Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Internationale |
Motif : | Revision de norme | ||
Résumé: | |||
La présente partie de l'IEC 62969 spécifie une méthode d'essai par injection directe de défaut pour l'interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l'interface de communication du véhicule. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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