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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 10/12/2021

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 2 : concept de profil de mission

PR NF EN IEC 63287-2

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document fournit des lignes directrices pour l'élaboration de plans de qualification de la fiabilité à l’aide du concept de profil de mission, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prévue du produit. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.

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Informations complémentaires :
  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

  • L'enquête publique est soumise sur la version française et anglaise;

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