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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 10/06/2020

Lasers et équipements associés aux lasers - Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction - Partie 2 : faisceaux astigmatiques généraux

NF EN ISO 11146-2

Suivie par la Commission : Optique et photonique Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Dans la série des normes relatives aux paramètres du faisceau laser, le présent document spécifie les méthodes d’essai destinées à mesurer les largeurs, les angles de divergence et les facteurs de propagation des faisceaux astigmatiques généraux et des faisceaux pour lesquels le type est inconnu. Il décrit les installations de mesure, les équipement d'essai et les données à faire figurer dans le rapport d'essai. Les faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples sont traités dans la norme NF EN ISO 11146-1. La description théorique de la caractérisation du faisceau et la classification des faisceaux laser sont données dans le rapport technique ISO/TR 11146-3.

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Informations complémentaires :
  • Dans la série des normes relatives aux paramètres du faisceau laser, le présent document spécifie les méthodes d’essai destinées à mesurer les largeurs, les angles de divergence et les facteurs de propagation des faisceaux astigmatiques généraux et des faisceaux pour lesquels le type est inconnu. Il décrit les installations de mesure, les équipement d'essai et les données à faire figurer dans le rapport d'essai.

    Les faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples sont traités dans la norme NF EN ISO 11146-1. La description théorique de la caractérisation du faisceau et la classification des faisceaux laser sont données dans le rapport technique ISO/TR 11146-3.

  • Remplace la norme homologuée NF EN ISO 11146-2, d'août 2005.

  • Par rapport au document remplacé, les principales modifications portent sur l'harmonisation des termes et des définitions avec la NF EN ISO 11145:2018 donnant le vocabulaire et les symboles applicables aux lasers et aux équipements associés aux lasers.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.