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Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences relatives à la CEM Partie 2-1 : exigences particulières - Configurations d'essai, conditions fonctionnelles et critères de performance pour essai de sensibilité et matériel de mesure pour les applications non protégées de la CEM
NF EN IEC 61326-2-1
| Suivie par la Commission : | Mesure et commande dans le processus industriel | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Revision de norme | ||
| Résumé: | |||
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En complément au domaine d'application de l'IEC 61326-1, la présente partie de l'IEC 61326 donne des spécifications plus détaillées des configurations d'essai, des conditions fonctionnelles et des critères de performance pour les matériels avec des circuits d'essai et de mesure (internes et/ou externes au matériel) qui n'ont pas de protection CEM pour des raisons opérationnelles et/ou fonctionnelles, comme spécifié par le fabricant. Le fabricant spécifie l'environnement auquel le produit est destiné et sélectionne les spécifications pertinentes du niveau d'essai de l'IEC 61326-1:2020. Exemples de matériels (entre autres) : oscilloscopes, analyseurs logiques, analyseurs de spectres, analyseurs de réseaux, appareils de mesure analogiques, multimètres numériques (DMM) et systèmes d'essai de carte. |
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| Informations complémentaires : | |||
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