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Nanotechnologies - Essais de rayure aux échelles nano- et micro métriques
XP CEN/TS 17629
| Suivie par la Commission : | Nanotechnologies | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
| Résumé: | |||
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Le présent document spécifie une méthode permettant de mesurer la résistance à la rayure et le comportement à la rupture des matériaux avancés et des revêtements, au moyen d'expériences de rayure aux échelles nano- et micro-métriques. La méthode fournit des données portant à la fois sur les dommages physiques occasionnés aux éprouvettes et sur le frottement généré entre la sonde et l'éprouvette en une seule ou plusieurs passes. Les forces à appliquer pour ces essais sont comprises entre 1 micron N et 2 N. La méthode d'essai n'est pas applicable aux revêtements tels que définis dans l'EN ISO 4618 [18]. |
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| Informations complémentaires : | |||
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