Le présent document spécifie une méthode de mesure de l'épaisseur de revêtements métalliques consistant à former tout d'abord un gradin entre la surface du revêtement et la surface de son substrat, puis à mesurer la hauteur de ce gradin à l'aide d'un instrument à enregistreur de profil. Il indique les caractéristiques d'appareillage et le mode opératoire convenant à cette application particulière des méthodes profilométriques. La méthode est applicable au mesurage de l'épaisseur de revêtements métalliques de 0,01 micron m à 1 000 micron m sur des surfaces planes et, en prenant les précautions appropriées, sur des surfaces cylindriques. Elle convient particulièrement au mesurage de très faibles épaisseurs; toutefois, pour les épaisseurs inférieures à 0,01 micron m, pour lesquelles la planéité et le poli de la surface sont très critiques, il n'est pas approprié d'utiliser cette méthode au niveau minimal de mesurage habituel pour les instruments électroniques à palpeur. Cette méthode convient pour le mesurage des épaisseurs de revêtements lors de la fabrication d'étalons d'épaisseurs.

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