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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 11/11/2024

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

PR NF EN IEC 60749-7

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document spécifie les essais et les mesures de la teneur en vapeur d’eau et en autres gaz de l’atmosphère à l’intérieur d’un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement. L’essai vise à mesurer la qualité du procédé de scellement et à donner des informations relatives à la stabilité chimique à long terme de l’atmosphère à l’intérieur du boîtier. Il est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs scellés de cette manière, mais généralement réservés pour les applications à haute fiabilité comme dans les domaines militaire et spatial.

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Informations complémentaires :
  • L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

  • Remplace la norme homologuée NF EN 60749-7, de février 2012.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.