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Nanotechnologies - Caractérisation des nano-objets par spectrométrie de masse à plasma induit en mode particule unique
XP CEN ISO/TS 19590
| Suivie par la Commission : | Nanotechnologies | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Révision de document | ||
Résumé : |
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Abréviations</h1> <h1>5 Principe de fonctionnement</h1> <h1>6 Développement de la méthode</h1> <h1>7 Qualification, critères de performance et incertitude de mesure</h1> <h1>8 Mode opératoire général de mesure</h1> <h1>9 Rapport d'essai</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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Informations complémentaires : |
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