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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 30/12/2024

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 3 : Lignes directrices pour les plans de qualification de la fiabilité des modules à semiconducteurs de puissance

PR NF EN IEC 63287-3

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document fournit des lignes directrices pour un plan de qualification de la fiabilité des modules à semiconducteurs de puissance, visant à définir des objectifs de fiabilité sur toute la durée de vie du produit.

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Informations complémentaires :

  • L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

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