Suivie par la Commission : | Métaux légers et leurs alliages | Origine des travaux : | Internationale |
Motif : | Revision de norme | ||
Résumé: | |||
Le présent document spécifie une méthode instrumentale pour la détermination de la netteté d'image réfléchie par les couches anodiques déposées sur l'aluminium et ses alliages par mesurage de la réflexion de la surface à l'aide d'un obturateur coulissant de type peigne. L'essai est appliqué à une surface plane qui est capable de réfléchir une image sur l'obturateur de type peigne limité et le photomètre. Cette méthode peut aussi être utilisée pour mesurer la planéité optique des couches anodiques déposées sur l'aluminium et ses alliages. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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