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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 12/05/2025

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

PR NF EN IEC 62132-8

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document définit une méthode de mesure de l’immunité d’un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées au moyen d’une ligne TEM à plaques pour circuit intégré.

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Informations complémentaires :

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • La présente partie de l’IEC 62132 définit une méthode de mesure de l’immunité d’un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées au moyen d’une ligne TEM à plaques pour circuit intégré.

  • C96-261-8

  • L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

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