Le présent document décrit la méthode d'essai permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par la méthode de diffraction des rayons X au synchrotron. La méthode peut être appliquée aux matériaux homogènes et non homogènes, y compris ceux contenant des phases distinctes. Des informations sont fournies sur la manière de réaliser les évaluations des contraintes résiduelles par la technique de diffraction des rayons X au synchrotron en ce qui concerne : la sélection appropriée de plans réticulaires de diffraction sur lesquels il convient d'effectuer des mesurages pour différentes catégories de matériaux ; les directions de l'éprouvette dans lesquelles il convient d'effectuer les mesurages ; le volume de matériau examiné en fonction de la taille du grain et de l'état de contrainte visé ; le choix de la référence (échantillon) sans contrainte facilitant le calcul de déformation résiduelle ; les méthodes disponibles pour calculer les contraintes résiduelles à partir des mesures de déformation. Des modes opératoires sont présentés pour l'étalonnage des appareils de diffraction des rayons X au synchrotron, permettant : le positionnement et l'alignement corrects des pièces d'essai ; la définition précise du volume de matériau échantillonné aux fins des mesurages individuels ; mais aussi pour : la réalisation des mesurages ; la réalisation des modes opératoires pour l'analyse des résultats ; la détermination de leurs incertitudes. Les principes de la technique de diffraction des rayons X au synchrotron sont décrits et mis en perspective avec l'EN 15305:2008 et l'EN ISO 21432:2020 qui sont utilisées pour évaluer les contraintes dans la masse d'une éprouvette.

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