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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 10/11/2025

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs neuromorphiques - Partie 2 : Méthode d’évaluation de la linéarité des dispositifs à memristance

PR NF EN IEC 63550-2

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document spécifie les méthodes d’essai permettant d’évaluer la linéarité des dispositifs neuromorphiques à memristance. Les méthodes d’essai données dans le présent document portent sur la potentialisation à long terme (LTP, Long Term Potentiation), la dépression synaptique à long terme (LTD, Long Term Depression), la tenue dans le temps et la capacité de conservation de la LTD/LTP, et la linéarité. Le présent document s’applique aux dispositifs neuromorphiques à memristance à 2 bornes, sans limitation quelconque relative à la technologie des dispositifs et à leurs dimensions.

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Informations complémentaires :

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre leurs observations et à notifier, avec la documentation justificative, tout éventuel droit de propriété intellectuelle (notamment droit d’auteur) ou de propriété industrielle (notamment brevet) susceptible d’être en lien direct ou indirect avec le projet ou d’être inclus ou référencé dans la norme en cours d’élaboration.

  • L'enquête publique est soumise sur la version française uniquement.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

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