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Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les briques de silice - Méthode par diffraction des rayons X
NF ISO 16206
| Suivie par la Commission : | CF/CEN/TC187 - CF/ISO/TC33 - Produits réfractaires | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Principe</h1> <h1>5 Appareillage</h1> <h1>6 Matériaux de référence à teneur en quartz alpha</h1> <h1>7 Échantillonnage</h1> <h1>8 Mode opératoire</h1> <h1>9 Résultats d'essai</h1> <h1>10 Rapport d'essai</h1> <h1>Annexe A Résultats de l'essai interlaboratoires et statistiques de fidélité</h1> <h1>Annexe B Calcul de la limite de détection et de la limite de quantification</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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Informations complémentaires : |
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