DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS — ESSAIS À L’ÉCHELLE DES PUCES POUR LES VÉHICULES AUTONOMES — Partie 1: LD-PD combinées pour systèmes LiDAR

PR NF EN IEC 63551-1

Suivie par la Commission :

Dispositifs à semiconducteurs

Origine des travaux :

Française

Motif :

Info non disponible

Résumé :

La présente partie de l’IEC 63551 spécifie les conditions et méthodes d’essai normales qui peuvent être utilisées pour évaluer et déterminer les performances de détection des dispositifs à semiconducteurs utilisés dans les systèmes LiDAR, portant essentiellement sur les performances des LD-PD combinées à l'échelle des puces.

Informations complémentaires :

Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre leurs observations et à notifier, avec la documentation justificative, tout éventuel droit de propriété intellectuelle (notamment droit d’auteur) ou de propriété industrielle (notamment brevet) susceptible d’être en lien direct ou indirect avec le projet ou d’être inclus ou référencé dans la norme en cours d’élaboration.
Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.
La présente partie de l’IEC 63551 spécifie les conditions et méthodes d’essai normales qui peuvent être utilisées pour évaluer et déterminer les performances de détection des dispositifs à semiconducteurs utilisés dans les systèmes LiDAR, portant essentiellement sur les performances des LD-PD combinées à l'échelle des puces.
L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

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