La présente partie de la IEC 60749 définit la méthode d'essai de variations rapides de température et la méthode des deux bains. Lorsque les deux méthodes d'essai sont effectuées pour la qualification d'un dispositif, les résultats des cycles de température dans l'air ont la priorité sur la méthode des deux bains. Cette dernière méthode d'essai peut également être utilisée, en appliquant moins de cycles (par exemple 5 à 10 cycles), pour déterminer l'effet de l'immersion dans des liquides chauds qui est utilisée pour le nettoyage des dispositifs. Cet essai est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs. Il est considéré comme destructif, sauf stipulation contraire dans la spécification applicable. Cet essai de variations rapides de température et de la méthode des deux bains est, en général, conforme à la IEC 60068-2-14, mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent.

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