Publication

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3 : dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

NF EN 60747-5-3/A1

Suivie par la Commission :

Origine des travaux :

Française

Motif :

Info non disponible

Résumé :

Le présent document concerne l''ajout de nouvelles méthodes de mesure pour les dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs

Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …).

En vue d'améliorer la qualité de ces documents,un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L’information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié.

Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.