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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température
NF EN 60749-23/A1
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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Le présent document modifie les articles 7 et 9 de la norme homologuée NF EN 60749-23 de juillet 2004. |
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Informations complémentaires : |
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