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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai climatiques et mécaniques - Partie 35 : microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique
NF EN 60749-35
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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La présente partie de la CE160749 définit les procédures pour réaliser la microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique. Cette norme fournit un guide d'utilisation de la microscopie acoustique pour détecter les anomalies (décollement interlaminaire, fissures, vides dans le composé de moulage) de manière reproductible et non destructive dans des boîtiers en plastique. |
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Informations complémentaires : |
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