La présente Norme internationale fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée : - d'un taux de défaillance, - d'une intensité de défaillance, - d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), - moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF), est conforme à une exigence donnée. Il est supposé, sauf spécification contraire, que pendant le temps d'essai cumulé, les durées de fonctionnement avant défaillance ou les durées de fonctionnement entre défaillances sont indépendantes et réparties de façon identique et exponentielle. Cette hypothèse implique que le taux de défaillance ou l'intensité de défaillance est constant. Les quatre types de plans d'essais suivants sont décrits : - essais progressifs tronqués ; - plans d'essais censurés (par la durée ou la défaillance) ; - essais censurés à durée calendaire déterminée sans remplacement ; - plans d'essais combinés. La présente norme ne couvre pas les lignes directrices sur la manière de planifier, réaliser, analyser et faire un rapport sur un essai. Ces informations sont données dans la CEI 603003-5. La présente norme ne couvre pas les conditions d'essais. Ces informations sont données dans la CEI 60605-2 et dans la CEI 60300-3-5.

Voir plus Voir moins