Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

<H1>AVANT-PROPOS 2</H1> <H1>1 Domaine d'application 4</H1> <H1>2 Références normatives 4</H1> <H1>3 Termes et définitions 4</H1> <H1>4 Appareillage 5</H1> <H2>4.1 Générateur de forme de DES du MM 5</H2> <H2>4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde 5</H2> <H1>5 Exigences de forme d'onde de courant du MM 6</H1> <H2>5.1 Généralités 6</H2> <H2>5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde 8</H2> <H1>6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique des dispositifs 8</H1> <H2>6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai 8</H2> <H2>6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de qualification standard 9</H2> <H1>7 Procédure de classification 10</H1> <H2>7.1 Exigence pour les dispositifs 10</H2> <H2>7.2 Sélection des dispositifs 10</H2> <H2>7.3 Caractérisation des dispositifs 10</H2> <H2>7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs 10</H2> <H2>7.5 Combinaisons de broches 11</H2> <H2>7.6 Ordre des essais 11</H2> <H1>8 Critères de défaillance 11</H1> <H1>9 Critères de classification 12</H1> <H1>10 Resumé 12</H1> <H1>Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes 13</H1>

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