1 Le présent Rapport Technique illustre et explique les principes de masquage de défaut dans des applications où de dispositifs de verrouillage multiples avec contacts libres de potentiels (B1 à Bn) sont connectés en séries à une unité logique (K) réalisant les diagnostics (voir Figures 1 à 7). Il fournit également un guide permettant d'estimer la probabilité de masquage de défaut et la DC maximale des dispositifs de verrouillage impliqués. Ce Rapport Technique s'applique uniquement aux dispositifs de verrouillage dans lesquels les deux canaux sont physiquement connectés en série. Le présent Rapport technique ne remplace pas l'usage de toutes autres normes relevant de la sécurité des machines. Les objectifs du présent Rapport technique sont les suivants: - fournir un guide aux utilisateurs pour l'estimation des valeurs de la DC maximale; - concevoir un guide pour les SRP/CS. NOTE 1 Les dispositifs de verrouillage avec autocontrôle intégré ne sont pas couverts par le domaine d'application du présent Rapport Technique. NOTE 2 La limitation est également donnée au moyen du diagnostic implémenté dans l'unité logique. NOTE 3 Le présent Rapport Technique n'est pas restreint aux capteurs de position actionnés mécaniquement.

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