Émission des sources fixes — Échantillonnage et détermination des composés de sélénium dans les effluents gazeux

<p>L'ISO 17211:2015 décrit la méthode de prélèvement et de détermination des composés de sélénium, en phase vapeur et en phase solide, qui sont entraînées dans les effluents gazeux circulant dans les cheminées ou les conduits. La teneur en sélénium dans un effluent gazeux est exprimée sous forme de masse de sélénium élémentaire dans le gaz du conduit.</p> <p>Les composés gazeux et particulaires du sélénium sont respectivement capturés par une solution d'absorption et un filtre. La concentration totale des composés de sélénium dans l'effluent gazeux est exprimée comme la somme des deux concentrations.</p> <p>Les concentrations en sélénium dans les deux échantillons sont déterminées par spectroscopie d'émission optique avec plasma induit par haute fréquence (ICP-OES), spectrométrie de masse avec plasma à couplage inductif (ICP-MS) ou spectrométrie d'absorption atomique en four graphite (GFAAS). Les techniques de génération d'hydrures (HG) couplées à la spectrométrie atomique peuvent également être utilisées, telles que HG-AAS, HG-AFS (spectrométrie de fluorescence atomique), HG-ICP-OES et HG-ICP-MS.</p> <p>La limite de détection pour les composés de sélénium gazeux sera de 0,3 µg/m³ en utilisant la technique HG-ICP-MS pour un volume de prélèvement de 0,12 m³. La limite de détection pour les composés de sélénium particulaires sera de 0,001 2 µg/m³ en utilisant la même technique HG-ICP-MS pour un volume de prélèvement de 2,0 m³.</p>

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