Suivie par la Commission : | Cuivre et alliages de cuivre | Origine des travaux : | Française |
Motif : | Nouveau document | ||
Résumé: | |||
La présente norme a pour objet la description d'une méthode de dosage spectrophotométrique du silicium dans le cuivre et ses alliages. La méthode est applicable aux teneurs en silicium inférieures ou égales à 0,40 %. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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