Le présent document spécifie les principes généraux de la quantification de phases par diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes, sous formes de poudres ou de solides, et de composition connue. Cette quantification de phase est basée sur l'analyse de diagrammes de diffraction des rayons X obtenus à partir de diffractomètres équipés de détecteur ponctuel, uni-, bi-, tri-dimensionnel, en travail mono-, poly-chromatique ou par dispersion d'énergie.

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