Composants électroniques - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Première partie : généralités.

<H1>AVANT-PROPOS </H1> <H1>CHAPITRE I: DOMAINE D'APPLICATION ET PRÉSENTATION DES PUBLICATIONS 747 ET 748 DE LA IEC </H1> <H1>1. Publications 747 5</H1> <H2>1.1 Domaine d'application 5</H2> <H2>1.2 Présentation 5</H2> <H1>2. Publications 748 5</H1> <H2>2.1 Domaine d'application 5</H2> <H2>2.2 Présentation 5</H2> <H1>CHAPITRE II: BUT ET PRÉSENTATION DE LA PUBLICATION 747-1 </H1> <H1>1. But 6</H1> <H1>2. Présentation 6</H1> <H1>CHAPITRE III: BUT, PRÉSENTATION ET EXIGENCES RELATIVES AUX PUBLICATIONS 747-2, 747-3, ETC.</H1> <H1>1. But de chaque publication 7</H1> <H1>2. Présentation de chaque publication 7</H1> <H2>2.1 Subdivision en chapitres 7</H2> <H2>2.2 Subdivision en sous-catégories de dispositifs 7</H2> <H1>3. Exigences relatives aux différents chapitres de chaque publication 7</H1> <H2>3.1 Exigences relatives au chapitre I, Généralités 7</H2> <H3>3.1.1 But </H3> <H2>3.2 Exigences relatives au chapitre II, Terminologie et symboles littéraux 7</H2> <H3>3.2.1 But 7</H3> <H3>3.2.2 Validité des termes, définitions et symboles littéraux 7</H3> <H3>3.2.3 Symboles littéraux 8</H3> <H2>3.3 Exigences relatives au chapitre III, Valeurs limites et caractéristiques essentielles 8</H2> <H3>3.3.1 But 8</H3> <H2>3.4 Exigences relatives au chapitre IV, Méthodes de mesure 8</H2> <H3>3.4.1 But 8</H3> <H2>3.5 Exigences relatives au chapitre V, Réception et fiabilité 8</H2> <H3>3.5.1 But 8</H3> <H1>CHAPITRE IV: TERMINOLOGIE, GÉNÉRALITÉS </H1> <H1>1. Introduction 9</H1> <H1>2. Termes physiques 9</H1> <H1>3. Termes généraux 12</H1> <H1>4. Types de dispositifs 12</H1> <H1>5. Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques 16</H1> <H2>5.1 Tensions 16</H2> <H2>5.2 Températures 16</H2> <H2>5.3 Caractéristiques thermiques 16</H2> <H2>5.4 Bruit 18</H2> <H2>5.5 Autres termes 19</H2> <H1>CHAPITRE V: SYMBOLES LITTÉRAUX, GÉNÉRALITÉS </H1> <H1>1. Introduction 20</H1> <H1>2. Symboles littéraux pour les courants, les tensions et les puissances 20</H1> <H1>3. Symboles littéraux pour les paramètres électriques 24</H1> <H1>4. Symboles littéraux pour les autres grandeurs 26</H1> <H1>CHAPITRE VI: VALEURS LIMITES ET CARACTÉRISTIQUES ESSENTIELLES, GÉNÉRALITÉS </H1> <H1>1. Introduction 28</H1> <H1>2. Feuille cadre pour la présentation des données publiées 28</H1> <H1>3. Définitions fondamentales pour les valeurs limites 28</H1> <H1>4. Définitions des conditions de refroidissement 29</H1> <H1>5. Liste des températures recommandées 30</H1> <H1>6. Liste des tensions et courants recommandés 30</H1> <H1>7. Valeurs limites et caractéristiques mécaniques et autres données 32</H1> <H1>8. Normalisation des positions des sorties sur les embases des dispositifs à semiconducteurs 34</H1> <H1>9. Code de couleurs pour les sorties des dispositifs à semiconducteurs 35</H1> <H1>10. Informations générales applicables aux dispositifs multiples ayant une encapsulation commune 36</H1> <H1>11. Dispersion et conformité de la production 38</H1> <H1>12. Câblages et circuits imprimés 38</H1> <H1>CHAPITRE VII: MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES ET MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE, GÉNÉRALITÉS </H1> <H1>SECTION UN - MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES </H1> <H1>1. Introduction 39</H1> <H1>2. Précautions générales 39</H1> <H2>2.1 Protection des dispositifs et de l'appareillage de mesure 39</H2> <H2>2.2 Précision des mesures 40</H2> <H2>2.3 Définitions 41</H2> <H1>SECTION DEUX - MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE 41</H1> <H1>1. Guide pour les méthodes de mesure de référence 42</H1> <H1>2. Conditions thermiques pour les mesures électriques de référence 42</H1> <H2>2.1 Introduction 42</H2> <H2>2.2 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance négligeable dans ,le dispositif 43</H2> <H2>2.3 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance non négligeable dans le dispositif 43</H2> <H1>CHAPITRE VIII: RÉCEPTION ET FIABILITÉ DES DISPOSITIFS DISCRETS </H1> <H1>SECTION UN - GÉNÉRALITÉS </H1> <H1>SECTION DEUX - PRINCIPES GÉNÉRAUX (A l'étude) </H1> <H1>SECTION TROIS - ESSAIS D'ENDURANCE ÉLECTRIQUE

Voir plus Voir moins