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Dispositifs hyperfréquences - Lignes à retard actives
NF C96-318
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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<H1>AVANT PROPOS</H1> <H1>1 GENERALITES</H1> <H2>1-1 Objet et domaine d'application</H2> <H2>1-2 Références</H2> <H2>1-3 Terminologie</H2> <H2>1-4 Identification</H2> <H2>1-5 Marquage</H2> <H2>1-6 Indications à donner à la commande</H2> <H1>2 ASSURANCE DE LA QUALITE</H1> <H2>2-1 Objet</H2> <H2>2-2 Principe</H2> <H2>2-3 Modalités d'exécution</H2> <H1>3 ESSAIS</H1> <H2>3-1 Conditions générales d'essais</H2> <H2>3-2 Examens visuels</H2> <H2>3-3 Mesures électriques</H2> <H2>3-4 Essais climatiques</H2> <H2>3-5 Essais corrosifs</H2> <H2>3-6 Essais mécaniques</H2> <H2>3-7 Essais divers généraux</H2> <H2>3-8 Essais de vieillissement</H2> |
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Informations complémentaires : |
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