Essais non-destructifs - Méthode d'essai pour l'analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

<H1>Avant-propos 4</H1> <H1>Introduction 5</H1> <H1>1 Domaine d'application 6</H1> <H1>2 Références normatives 7</H1> <H1>3 Termes, définitions et symboles 7</H1> <H2>3.1 Termes et définitions 7</H2> <H2>3.2 Symboles et abréviations 7</H2> <H1>4 Principes 10</H1> <H2>4.1 Principes généraux du mesurage 10</H2> <H2>4.2 Analyse biaxiale de contraintes 12</H2> <H2>4.3 Analyse triaxiale des contraintes 14</H2> <H1>5 Éprouvette 15</H1> <H2>5.1 Caractéristiques du matériau 15</H2> <H2>5.2 Préparation de l'éprouvette 17</H2> <H1>6 Matériel 18</H1> <H2>6.1 Généralités 18</H2> <H2>6.2 Choix du matériel 18</H2> <H2>6.3 Choix du rayonnement 22</H2> <H2>6.4 Choix du détecteur 24</H2> <H2>6.5 Performance de l'équipement 24</H2> <H2>6.6 Qualification et vérification du matériel 25</H2> <H1>7 Méthode expérimentale 28</H1> <H2>7.1 Généralités 28</H2> <H2>7.2 Positionnement de l'éprouvette 28</H2> <H2>7.3 Conditions de diffraction 29</H2> <H2>7.4 Acquisition de données 29</H2> <H1>8 Traitement des données 31</H1> <H2>8.1 Généralités 31</H2> <H2>8.2 Traitement des données de diffraction 31</H2> <H2>8.3 Calcul des contraintes 33</H2> <H2>8.4 Évaluation critique des résultats 35</H2> <H1>9 Rapport 37</H1> <H1>10 Détermination expérimentale des CER 38</H1> <H2>10.1 Introduction 38</H2> <H2>10.2 Dispositif de mise en charge 38</H2> <H2>10.3 Éprouvette 39</H2> <H2>10.4 Étalonnage du dispositif de mise en charge et adaptation de l'éprouvette 39</H2> <H2>10.5 Mesurage dans le diffractomètre 40</H2> <H2>10.6 Calcul des CER 40</H2> <H1>11 Éprouvettes de référence 41</H1> <H2>11.1 Introduction 41</H2> <H2>11.2 Éprouvette de référence sans contrainte 41</H2> <H2>11.3 Éprouvette de référence sous contraintes 42</H2> <H1>12 Cas limitatifs 44</H1> <H2>12.1 Introduction 44</H2> <H2>12.2 Présence d'un gradient de contrainte sous la surface 44</H2> <H2>12.3 Gradient de contrainte superficiel 45</H2> <H2>12.4 Rugosité de la surface 45</H2> <H2>12.5 Surfaces non planes 45</H2> <H2>12.6 Effets de la microstructure du matériau 45</H2> <H2>12.7 Raies de diffraction larges 47</H2> <H1>Annexe A (informative) Représentation schématique du projet de normalisation européenne des poudres de diffraction des rayons X 48</H1> <H1>Annexe B (informative) Origine des contraintes résiduelles 49</H1> <H1>Annexe C (normative) Détermination de l'état de contraintes . Procédure g??nérale 50</H1> <H1>Annexe D (informative) Progrès récents 55</H1> <H1>Annexe E (informative) Détails du traitement des données de mesure 60</H1> <H1>Annexe F (informative) Description générale des méthodes d'acquisition 69</H1> <H1>Annexe G (informative) Mode opératoire normal de mesure des contraintes et Mode opératoire spécifique de mesure des contraintes 83</H1> <H1>Bibliographie 85</H1>

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