Le présent rapport définit une méthode simple de mesure de la fréquence de résonance à la charge fL et de la résistance de résonance à la charge RL dans la gamme des fréquences jusqu'à 30 MHz. Ces mesures permettent le calcul du décalage de la fréquence de résonance à la charge AfL, de la gamme de décalage de fréquence AfLl,L2 et de la sensibilité de fréquence relative S comme décrit dans la Modification n° 1 à la Publication 122-1 de la CEI. Cette méthode utilise le changement de la fréquence de résonance de f, à fL (c'est-à-dire AfJ qui a lieu lorsqu'une capacité décharge CL est insérée en série avec le résonateur à quartz. Son exactitude est déterminée principalement par la précision de la mesure de la fréquence et par l'étalonnage du condensateur de charge. La mesure de la fréquence de résonance à la charge fL avec des capacités de charge différentes peut être utilisée pour la détermination de C1 et L1 comme cela est défini dans la Publication 302 de la CEI. Il faut noter que, lorsqu'on fait les mesures de la fréquence de résonance à la charge des résonateurs à quartz, la précision qui peut être atteinte est fonction de la construction du résonateur à quartz et de la valeur de la capacité de charge, ainsi que de la méthode de mesure. Des informations utiles, d'intérêt général, seront trouvées dans la Publication 122-2 de la CEI.

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