Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Internationale |
Motif : | Revision de norme | ||
Résumé: | |||
La présente partie de la IEC 60749 décrit l'essai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer l'effet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il s'agit d'un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité. Cet essai de vibrations à fréquences variables est, en général, conforme à la IEC 60068-2-6, mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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