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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température
NF EN 60749-23
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Info non disponible | ||
Résumé : |
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<H1>AVANT-PROPOS 2</H1> <H1>1 Domaine d'application 4</H1> <H1>2 Références normatives 4</H1> <H1>3 Termes et définitions 4</H1> <H1>4 Appareillage 5</H1> <H2>4.1 Circuits 5</H2> <H3>4.1.1 Schéma de dispositif 5</H3> <H3>4.1.2 Puissance 5</H3> <H2>4.2 Montage du dispositif 5</H2> <H2>4.3 Alimentation et sources de signal 5</H2> <H2>4.4 Enceinte environnementale 5</H2> <H1>5 Procédure 5</H1> <H2>5.1 Durée de contrainte 6</H2> <H2>5.2 Conditions de contrainte 6</H2> <H3>5.2.1 Température ambiante 6</H3> <H3>5.2.2 Tension de fonctionnement 6</H3> <H3>5.2.3 Configurations de polarisation 6</H3> <H1>6 Refroidissement 7</H1> <H1>7 Mesures 7</H1> <H1>8 Critères de défaillance 8</H1> <H1>9 Résumé 8</H1> <H1>Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes 9</H1> |
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Informations complémentaires : |
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