Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Internationale |
Motif : | Revision de norme | ||
Résumé: | |||
L' essai de résistance à l'humidité accélérée sans polarisation (HAST) est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à l'état solide sous boîtiers non-hermétiques dans des environnements humides. Il s'agit d'un essai à forte accélération qui utilise une température et une humidité dans des conditions sans condensation, pour accélérer la pénétration d'humidité à travers le matériau de protection extérieur (agent d'enrobage ou de scellement) ou par l'interface entre le matériau de protection extérieur et les conducteurs métalliques qui le traversent. La polarisation n'est pas appliquée dans cet essai pour s'assurer que les mécanismes de défaillances potentiellement éclipsés par la polarisation puissent être découverts (par exemple la corrosion galvanique). Cet essai est utilisé pour identifier les mécanismes de défaillances internes au boîtier et il est destructif. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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