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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe
NF EN 60749-3
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Info non disponible | ||
Résumé : |
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Appareillage d'essai</h1> <h1>5 Procédure</h1> <h1>6 Critères de défaillance</h1> <h1>7 Résumé</h1> <h1>A Formulaire/liste de contrôle pour le rapport d'examen visuel externe (donné uniquement à titre d'exemple, il ne s'agit pas d'un modèle à reprendre obligatoirement)</h1> <h1>ZA Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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Informations complémentaires : |
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