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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)
NF EN 60749-31
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Révision de document | ||
| Résumé: | |||
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L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. |
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| Informations complémentaires : | |||
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