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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)

NF EN 60749-31

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Européenne
Votre contact : Laurence GUEDON

Résumé :

L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives.

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Informations complémentaires :
  • Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …).

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