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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
NF EN 60749-4
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Revision de norme | ||
| Résumé: | |||
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Domaine d'application La présente partie de l'IEC 60749 décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. |
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| Informations complémentaires : | |||
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