Consultation NF EN 60749-6

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Publication

Suivie par la Commission :	Dispositifs à semiconducteurs	Origine des travaux :	Européenne
		Motif :	Révision de document

Résumé:
La présente partie de la IEC 60749 a pour objet de tester et de déterminer sur tous les dispositifs électroniques à semiconducteurs l'effet du stockage à température élevée et sans contrainte électrique appliquée. Cet essai est considéré comme non destructif mais doit être utilisé de préférence pour la qualification des dispositifs. Si de tels dispositifs sont livrés, les effets de cet essai de contrainte fortement accéléré devront être évalués. Cet essai de stockage à haute température est, en général, en accord avec la IEC 60068-2-48 mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent. Voir plus Voir moins

Informations complémentaires :
Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …). En vue d'améliorer la qualité de ces documents,un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L’information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié. Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.