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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8 : mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré
NF EN IEC 61967-8
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Revision de norme | ||
Informations complémentaires : |
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