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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8 : mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
NF EN 61967-8
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Révision de document | ||
| Résumé: | |||
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La procédure de mesure de la présente partie de la IEC 61967 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI. |
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| Informations complémentaires : | |||
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