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Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 7 : filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques
NF EN 62047-7
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
| Résumé: | |||
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La présente partie de la IEC 62047 définit les termes, les définitions, les symboles, les configurations, et les méthodes d'essai susceptibles d'être utilisés pour évaluer et déterminer les caractéristiques d'aptitude à la fonction des dispositifs de résonateurs, filtres et duplexeurs BAW en tant que dispositifs de commande et de choix des fréquences radioélectriques. La présente norme spécifie les méthodes d'essai et les exigences générales relatives aux dispositifs de résonateur, de filtre et de duplexeur BAW sous assurance de la qualité, au moyen des procédures d'agrément de savoir-faire ou d'homologation. |
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| Informations complémentaires : | |||
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