Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Européenne |
Motif : | Nouveau document | ||
Résumé: | |||
Cette procédure de mesure décrit une méthode de mesure pour quantifier l'immunité RF des circuits intégrés (CI) montés sur une carte d'essai normalisée ou dans leur application finale de carte d'essai (PCB), aux perturbations électromagnétiques conductrices. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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