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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
NF EN 62132-8
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Info non disponible | ||
Résumé : |
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Le présent document définit une méthode de mesure de l''immunité d''un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques sur la gamme de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le présent document entre dans le champ d''application de la Directive EMC n°2004/108/EC du 15/12/2004. |
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Informations complémentaires : |
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