Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Européenne |
Motif : | Nouveau document | ||
Résumé: | |||
La présente partie de la IEC 62228 spécifie les méthodes d'essai et de mesure pour l'évaluation de la compatibilité électromagnétique (CEM) des circuits intégrés émetteurs-récepteurs LIN placés en réseau. Il définit les configurations d'essai, les conditions d'essai, les signaux d'essai, les critères de défaillance, les modes opératoires d'essai, les dispositions d'essai et les cartes d'essai. Il s'applique aux circuits intégrés émetteurs-récepteurs LIN standard et aux circuits intégrés avec émetteur-récepteur LIN intégré, et couvre l'émission de perturbations radioélectriques; l'immunité aux perturbations radioélectriques; l'immunité aux transitoires électriques; l'immunité aux décharges électrostatiques (DES) . Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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