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Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure
NF EN 62276
| Suivie par la Commission : | Dispositifs piezoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Info non disponible | ||
| Résumé: | |||
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Exigences</h1> <h1>5 Plan d'échantillonnage</h1> <h1>6 Méthodes d'essai</h1> <h1>7 Identification, étiquetage, emballage, conditions de livraison</h1> <h1>8 Mesure de la température de Curie</h1> <h1>9 Mesure de la constante du réseau cristallin (méthode de Bond)</h1> <h1>10 Mesure de l'angle de face aux rayons X</h1> <h1>11 Mesure de la résistivité volumique</h1> <h1>12 Contrôles visuels - Méthode de contrôle de la surface avant</h1> <h1>Annexe A (normative) Expression utilisant la description de l'angle d'Euler pour les monocristaux piézoélectriques</h1> <h1>Annexe B (informative) Processus de fabrication pour tranches OAS</h1> <h1>Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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| Informations complémentaires : | |||
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