La Partie 3-1 de la IEC 62321 décrit des procédures d'analyse de détection de cinq substances, spécifiquement le plomb (Pb), le mercure (Hg), le cadmium (Cd), le chrome total (Cr) et le brome total (Br) dans des matériaux uniformes utilisés dans les produits électrotechniques en utilisant la technique d'analyse de spectrométrie par fluorescence X (XRF). Ceci s'applique aux polymères, aux métaux et aux matériaux céramiques. La méthode d'essai peut être appliquée aux matières premières, à des matériaux particuliers tirés de produits et à des mélanges "homogénéisés" de plusieurs matériaux. La détection d'un échantillon est réalisée au moyen de tout type de spectromètre XRF, à condition qu'il ait les caractéristiques de performance spécifiées dans la présente méthode d'essai. Tous les types de spectromètres XRF ne conviennent pas à toutes les tailles et toutes les formes d'échantillon. Il convient qu'une attention toute particulière soit accordée au choix du modèle de spectromètre approprié à la tâche concernée. Les performances de la présente méthode d'essai ont été vérifiées pour les substances suivantes présentes dans divers supports et dans des plages de concentrations telles que spécifiées dans les Tableaux 1 à 5.

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