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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)
NF EN IEC 60749-26
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Révision de document | ||
| Résumé: | |||
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Appareillage et matériel exigé</h1> <h1>5 Qualification et vérification de routine du matériel d'essai de contrainte</h1> <h1>6 Procédure de classification</h1> <h1>7 Critères de défaillance</h1> <h1>8 Classification des composants</h1> <h1>Annexe E (normative) Méthode d'essai d'échantillonnage de broche clonée n'assurant pas l'alimentation (entrée/sortie)</h1> <h1>Annexe A (informative) Organigramme de la méthode d'essai de HBM</h1> <h1>Annexe B (informative) Propriétés parasites du matériel d'essai de HBM</h1> <h1>Annexe C (informative) Exemple d'essai d'un produit à l'aide du Tableau 2, du Tableau 3, ou du Tableau 2 avec un appareil d'essai de HBM à deux broches</h1> <h1>Annexe D (informative) Exemples de paires de broches couplées n'assurant pas l'alimentation</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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| Informations complémentaires : | |||
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