Consultation NF EN IEC 60749-41

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Publication

Suivie par la Commission :	Dispositifs à semiconducteurs	Origine des travaux :	Internationale
		Motif :	Revision de norme

Résumé:
Domaine d'application La présente partie de l'IEC 60749 spécifie les exigences relatives aux procédures permettant de réaliser des essais valides d'endurance, de conservation de données et à températures opposées, basées sur une spécification de qualification. Les spécifications de qualification des essais d'endurance et de conservation de données (pour les nombres de cycles, durées, températures et tailles d'échantillon) sont données dans le document JESD47 ou sont développées en utilisant des méthodes à base de connaissances, telles que celles données dans le document JESD94. Voir plus Voir moins

Informations complémentaires :
Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, ...). En vue d'améliorer la qualité de ces documents, un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L'information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié. Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.