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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 41 : méthodes d’essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile
NF EN IEC 60749-41
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Appareillage</h1> <h1>5 Procédure</h1> <h1>6 Critères de défaillance et calcul</h1> <h1>7 Résumé</h1> <h1>Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes</h1> <h1>Annexe A (informative) Condition d'essai supplémentaire</h1> <h1>Bibliographie</h1> |
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Informations complémentaires : |
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