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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
NF EN IEC 60749-5
| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Révision de document | ||
Résumé : |
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<h1>1 Domaine d'application</h1> <h1>2 Références normatives</h1> <h1>3 Termes et définitions</h1> <h1>4 Généralités</h1> <h1>5 Équipement</h1> <h1>6 Conditions d'essai</h1> <h1>7 Procédures</h1> <h1>8 Critères de défaillance</h1> <h1>9 Sécurité</h1> <h1>10 Résumé</h1> <h1>ZA Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes</h1> |
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Informations complémentaires : |
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